針對材料件、電子元器件、電子組件、電子整機乃至電子系統(tǒng)的高可靠、長壽命指標驗證的需求，
高加速試驗一般分為寶加速壽命試驗和高加速應(yīng)力應(yīng)力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設(shè)計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。HALT不是一種合格或者不合格的測試，是一種協(xié)助設(shè)計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預(yù)先設(shè)定極限，極限由產(chǎn)品決定，逐步增加應(yīng)力，直至失效，試驗中需要對產(chǎn)品進行監(jiān)測。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應(yīng)力篩選,應(yīng)力低于HALT試驗。
適用范圍：
可為電工電子、儀器儀表、汽車以及航天產(chǎn)品的模塊、通訊終端、部件以及整機等開展Halt/Hass試驗。
測試標準：
GB/T 29309；
試驗項目：
Halt試驗類型 | 試驗一般條件 | 應(yīng)用情況 |
低溫步進應(yīng)力 | 1、以常溫或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的溫度點作為起始溫度，開始試驗； | 應(yīng)用廣泛 |
高溫步進應(yīng)力 |
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