高低溫試驗箱
高低溫試驗箱具有良好的保溫性能，箱室上頂面裝有鼓風機，配以箱內風道，使箱內熱空氣有規(guī)律循環(huán)，從而提高了箱內溫度均勻度。電加熱器密封式管狀形狀，以防露熱絲和低著火點氣體直接接觸而發(fā)生事故。
高低溫試驗箱測試流程：
1·當樣品斷電時，首先將溫度降至-50℃，保持4小時樣品上電時不進行低溫測試非常重要，因為芯片本身上電時溫度會高于+20℃，所以通常上電時更容易通過低溫測試，所以必須先“凍透”，再重新上電進行測試。
2.啟動機器，測試樣品的性能，與常溫相比性能是否正常。
3.進行老化測試，看是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4.將溫度升至+90℃，并保持4小時。與低溫測試是相反的，芯片內部溫度要保持在高溫狀態(tài)，加熱過程中不斷電。在4小時之后，執(zhí)行測試步驟2、3和4。
5.高溫和低溫試驗分別要重復10次。
如果測試過程在任何時候都不能正常工作，就被認為是測試失敗。
試驗標準
JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗GJb150.4A-2009
JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第 3 部分：高溫試驗 GJb150.3A-2009
JUN用通信設備通用規(guī)范GJb 367A-2001JUN用計算機通用規(guī)范 GJb 322A-1998
JUN用電子測試設備通用規(guī)范 GJb 3947A-2009艦船電子設備環(huán)境試驗 高溫試驗 GJb 4.2-1983艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJb4.3-1983艦船電子設備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJb 4.4-1983技術偵察裝備通用技術要求 第 7 部分：環(huán)境適應性要求和試驗方法 GJb 1621.7A-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分：試驗方法 試驗 A：低溫 GB/T 2423.1-2008
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